APPLICATION OF CONVOLUTION RELATIONS IN X-RAY LINE BREADTH ANALYSIS .3.

被引：2

作者：

NANDI, RK ^{[1
]}

GUPTA, SPS ^{[1
]}

机构：

[1] INDIAN ASSOC CULTIVATION SCI,DEPT GEN PHYS & X-RAYS,CALCUTTA 700032,INDIA

来源：

JOURNAL OF PHYSICS D-APPLIED PHYSICS | 1976年 / 9卷 / 04期

关键词：

D O I：

10.1088/0022-3727/9/4/009

中图分类号：

O59 [应用物理学];

学科分类号：

摘要：

引用

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页码：601 / 605

页数：5

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共 2 条

[1] APPLICATION OF CONVOLUTION RELATIONS IN X-RAY LINE BREADTH ANALYSIS .1. [J].

NANDI, RK ;

SENGUPTA, SP .

JOURNAL OF PHYSICS D-APPLIED PHYSICS, 1975, 8 (07) :731-737

[2]

SCHOENING RRL, 1965, ACTA CRYSTALLOGR, V18, P975