The electron microscope - Calibration and use at low magnifications

被引：16

作者：

Burton, CJ ^{[1
]}

Barnes, RB ^{[1
]}

Rochow, TG ^{[1
]}

机构：

[1] Amer Cyanamid Co, Stamford Res Labs, Stamford, CT USA

来源：

INDUSTRIAL AND ENGINEERING CHEMISTRY | 1942年 / 34卷

关键词：

D O I：

10.1021/ie50396a005

中图分类号：

O69 [应用化学];

学科分类号：

081704 ;

摘要：

引用

页码：1429 / 1436

页数：8