SENSITIVITY ANALYSIS OF PARASITIC EFFECTS IN RESISTANCE-TERMINATED LC TWO-PORTS

被引：34

作者：

BLOSTEIN, ML

机构：

来源：

IEEE TRANSACTIONS ON CIRCUIT THEORY | 1967年 / CT14卷 / 01期

关键词：

D O I：

10.1109/TCT.1967.1082652

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

引用

页码：21 / &

共 10 条

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