USE OF ION SCATTERING AND SECONDARY ION MASS-SPECTROMETRY TO CHARACTERIZE APPARENT ADHESIVE FAILURE IN AN ADHESIVE BOND

被引：13

作者：

BAUN, WL ^{[1
]}

机构：

[1] USAF,MAT LAB,MECH & SURFACE INTERACTIONS BRANCH,WRIGHT PATTERSON AFB,OH 45433

来源：

关键词：

D O I：

10.1080/00218467608075057

中图分类号：

TQ [化学工业];

学科分类号：

0817 ;

摘要：

引用

页码：261 / 267

页数：7

共 6 条

BAIR, HE ;

VADIMSKY, RG ;

WANG, TT ;

MATSUOKA, S .

BENNINGHOVEN, A .

[3]

BIKERMAN JJ, 1973, RECENT ADV ADHESION, P351

[4] DETECTION OF THIN-FILMS OF EPOXY-RESIN ON METAL-SURFACES [J].

BRETT, CL .

[5] ION SCATTERING SPECTROMETRY [J].

GOFF, RF .

JOURNAL OF VACUUM SCIENCE & TECHNOLOGY, 1973, 10 (02) :355-358

[6]

Good R. J., 1973, RECENT ADV ADHESION, P357