MEASUREMENT OF SEMICONDUCTOR PROPERTIES IN A SLOTTED-WAVEGUIDE STRUCTURE

被引：10

作者：

GUNN, MW

BROWN, J

机构：

来源：

PROCEEDINGS OF THE INSTITUTION OF ELECTRICAL ENGINEERS-LONDON | 1965年 / 112卷 / 03期

关键词：

D O I：

10.1049/piee.1965.0077

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

引用

页码：463 / &