FIZEAU INTERFEROMETER FOR MEASURING FLATNESS OF OPTICAL SURFACES

被引：35

作者：

BUNNAGEL, R

OEHRING, HA

STEINER, K

机构：

来源：

APPLIED OPTICS | 1968年 / 7卷 / 02期

关键词：

D O I：

10.1364/AO.7.000331

中图分类号：

O43 [光学];

学科分类号：

070207 ; 0803 ;

摘要：

引用

页码：331 / &

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