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ESTIMATION OF STRUCTURAL DAMAGE INDUCED BY CHEMICAL OR IONIC PROCESSES ON THE SURFACE OF CRYSTALLINE BINARY COMPOUNDS BY X-RAY PHOTOELECTRON DIFFRACTION - APPLICATION TO CHEMICALLY ETCHED GAAS (001) SURFACE
被引：5
作者：
OLIVIER, J
ALNOT, P
机构：
关键词：
D O I：
10.1088/0268-1242/4/2/001
中图分类号：
TM [电工技术];
TN [电子技术、通信技术];
学科分类号：
0808 ;
0809 ;
摘要：
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