UTILIZATION OF HIGH-SPEED X-RAY TOPOGRAPHY FOR DETERMINING DIFFUSION-COEFFICIENTS OF POINT-DEFECTS IN NEARLY PERFECT CRYSTALS

被引:21
作者
HONDOH, T
GOTO, A
HOSHI, R
ONO, T
ANZAI, H
KAWASE, R
PIMIENTA, P
MAE, S
机构
关键词
D O I
10.1063/1.1140708
中图分类号
TH7 [仪器、仪表];
学科分类号
0804 ; 080401 ; 081102 ;
摘要
引用
收藏
页码:2494 / 2497
页数:4
相关论文
共 3 条