REFERENCE PLATE CALIBRATION SCHEME FOR SENSITIVITY AND WAVELENGTH SELECTION IN SCANNING DENSITOMETRY

被引：10

作者：

BUTLER, HT ^{[1
]}

PACHOLEC, F ^{[1
]}

POOLE, CF ^{[1
]}

机构：

[1] WAYNE STATE UNIV,DEPT CHEM,DETROIT,MI 48202

来源：

JOURNAL OF HIGH RESOLUTION CHROMATOGRAPHY & CHROMATOGRAPHY COMMUNICATIONS | 1982年 / 5卷 / 10期

关键词：

D O I：

10.1002/jhrc.1240051019

中图分类号：

O65 [分析化学];

学科分类号：

070302 ; 081704 ;

摘要：

引用

页码：580 / 581

页数：2