LOW-VOLTAGE ELECTRON-MICROSCOPY - HOW LOW

被引：7

作者：

BARTH, JE ^{[1
]}

LEPOOLE, JB ^{[1
]}

机构：

[1] DELFT UNIV TECHNOL,DEPT APPL PHYS,DELFT,NETHERLANDS

来源：

ULTRAMICROSCOPY | 1976年 / 1卷 / 04期

关键词：

D O I：

10.1016/0304-3991(76)90054-1

中图分类号：

TH742 [显微镜];

学科分类号：

摘要：

引用

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页码：387 / 388

页数：2

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共 5 条

[1] VERY LOW-VOLTAGE ELECTRON-MICROSCOPY
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