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GAMMA-RAY SPECTROSCOPY WITH SINGLE-CARRIER COLLECTION IN HIGH-RESISTIVITY SEMICONDUCTORS
被引:71
作者
:
MALM, HL
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机构:
CALTECH, PASADENA, CA 91125 USA
MALM, HL
CANALI, C
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CALTECH, PASADENA, CA 91125 USA
CANALI, C
MAYER, JW
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机构:
CALTECH, PASADENA, CA 91125 USA
MAYER, JW
NICOLET, MA
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机构:
CALTECH, PASADENA, CA 91125 USA
NICOLET, MA
ZANIO, KR
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CALTECH, PASADENA, CA 91125 USA
ZANIO, KR
AKUTAGAWA, W
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机构:
CALTECH, PASADENA, CA 91125 USA
AKUTAGAWA, W
机构
:
[1]
CALTECH, PASADENA, CA 91125 USA
[2]
HUGHES RES LAB, MALIBU, CA 90265 USA
来源
:
APPLIED PHYSICS LETTERS
|
1975年
/ 26卷
/ 06期
关键词
:
D O I
:
10.1063/1.88158
中图分类号
:
O59 [应用物理学];
学科分类号
:
摘要
:
引用
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GAMMA RESPONSE OF SEMI-INSULATING MATERIAL IN PRESENCE OF TRAPPING AND DETRAPPING
AKUTAGAWA, W
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机构:
Hughes Research Laboratories, Malibu
AKUTAGAWA, W
ZANIO, K
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机构:
Hughes Research Laboratories, Malibu
ZANIO, K
[J].
JOURNAL OF APPLIED PHYSICS,
1969,
40
(09)
: 3838
-
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[2]
MAYER JW, 1968, SEMICONDUCTOR DETECT, P445
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Ramo S., 1939, P IRE, V27, P584, DOI DOI 10.1109/JRPROC.1939.228757
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1968,
NS15
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MONTANO, H
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MONTANO, H
[J].
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1972,
NS19
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[1]
GAMMA RESPONSE OF SEMI-INSULATING MATERIAL IN PRESENCE OF TRAPPING AND DETRAPPING
AKUTAGAWA, W
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机构:
Hughes Research Laboratories, Malibu
AKUTAGAWA, W
ZANIO, K
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机构:
Hughes Research Laboratories, Malibu
ZANIO, K
[J].
JOURNAL OF APPLIED PHYSICS,
1969,
40
(09)
: 3838
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+
[2]
MAYER JW, 1968, SEMICONDUCTOR DETECT, P445
[3]
Ramo S., 1939, P IRE, V27, P584, DOI DOI 10.1109/JRPROC.1939.228757
[4]
CHARGE COLLECTION IN COAXIAL GE(LI) DETECTORS
SAKAI, E
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SAKAI, E
[J].
IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE,
1968,
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ANALYSIS OF CDTE PROBES
ZANIO, K
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ZANIO, K
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AKUTAGAWA, W
MONTANO, H
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MONTANO, H
[J].
IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE,
1972,
NS19
(03)
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