RAMAN-SCATTERING AS A DIAGNOSTIC-TECHNIQUE FOR CATHODE CHARACTERIZATION

被引：13

作者：

BENNER, RE

MITCHELL, JR

GROW, RW

机构：

来源：

关键词：

D O I：

10.1109/T-ED.1987.23163

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

引用

页码：1842 / 1847

页数：6

共 3 条

[1]

Falce L. R., 1983, International Electron Devices Meeting 1983. Technical Digest, P448

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