USE OF PURE CARBON SPECIMEN HOLDERS FOR ANALYTICAL ELECTRON-MICROSCOPY OF THIN-SECTIONS

被引:27
作者
LILJESVAN, B [1 ]
ROOMANS, GM [1 ]
机构
[1] UNIV STOCKHOLM,WENNER GREN INST,S-11345 STOCKHOLM,SWEDEN
关键词
D O I
10.1016/S0304-3991(76)90620-3
中图分类号
TH742 [显微镜];
学科分类号
摘要
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页数:3
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