MEASUREMENT OF PERMITTIVITY OF FILMS AT MICROWAVE-FREQUENCIES

被引：13

作者：

DUBE, DC ^{[1
]}

NATARAJA.R ^{[1
]}

机构：

[1] INDIAN INST TECHNOL,DEPT PHYS,NEW DELHI-110029,INDIA

来源：

JOURNAL OF PHYSICS E-SCIENTIFIC INSTRUMENTS | 1974年 / 7卷 / 04期

关键词：

D O I：

10.1088/0022-3735/7/4/012

中图分类号：

TH7 [仪器、仪表];

学科分类号：

0804 ; 080401 ; 081102 ;

摘要：

引用

页码：256 / 257

页数：2

共 6 条

CONKLIN, GE .

DUBE, DC ;

NATARAJA.R .

GIBSON, AF ;

GRANVILLE, JW ;

PAIGE, EGS .

[4]

Maier H. G., 1970, Frequenz, V24, P303, DOI 10.1515/FREQ.1970.24.10.303

[5]

PILIPENKO VV, 1970, SOV PHYS TECH PHYS-U, V14, P1662

[6]

VONHIPPEL AR, 1961, DIELECTRIC MATERIALS