COMPUTER-SIMULATION OF X-RAY TOPOGRAPHS OF STACKING-FAULTS IN SILICON

被引：8

作者：

WONSIEWICZ, BC ^{[1
]}

PATEL, JR ^{[1
]}

机构：

[1] BELL TELL LABS INC,MURRAY HILL,NJ 07974

来源：

关键词：

D O I：

10.1107/S0021889875009569

中图分类号：

O6 [化学];

学科分类号：

0703 ;

摘要：

引用

页码：67 / 68

页数：2

共 5 条

[1] CONTRAST OF A STACKING FAULT ON X-RAY TOPOGRAPHS [J].

AUTHIER, A .

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AUTHIER, A ;

SAUVAGE, M .

JOURNAL DE PHYSIQUE, 1966, 27 (7-8S) :137-&

EPELBOIN, Y ;

LIFCHITZ, A .

[4]

Kato N., 1967, ADV X-RAY ANAL, V10, P46

[5]

PATEL JL, TO BE PUBLISHED