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THE RAMAN MICROPROBE - A QUANTITATIVE ANALYTICAL TOOL TO CHARACTERIZE LASER-PROCESSED SEMICONDUCTORS
被引：10
作者：
FAUCHET, PM
机构：
来源：
IEEE CIRCUITS & DEVICES
|
1986年
/
2卷
/
01期
关键词：
D O I：
10.1109/MCD.1986.6311769
中图分类号：
TM [电工技术];
TN [电子技术、通信技术];
学科分类号：
0808 ;
0809 ;
摘要：
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页码：37 / 42
页数：6
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