SPECKLE-SHEARING INTERFEROMETER - A TOOL FOR MEASURING DERIVATIVES OF SURFACE DISPLACEMENTS

被引：100

作者：

HUNG, YY ^{[1
]}

机构：

[1] ILLINOIS INST TECHNOL,RES INST,10 W 35TH ST,CHICAGO,IL 60616

来源：

OPTICS COMMUNICATIONS | 1974年 / 11卷 / 02期

关键词：

D O I：

10.1016/0030-4018(74)90200-4

中图分类号：

O43 [光学];

学科分类号：

070207 ; 0803 ;

摘要：

引用

收藏

页码：132 / 135

页数：4

相关论文

共 6 条

[1]

ARCHBOLD E, 1970, OPT ACTA, V15, P101

[2]

HUNG YY, 1973, 17 SOC PHOT OPT INST

[3]

HUNG YY, 1972, EXP MECH OCT, P454

[4] INTERFEROMETRIC DISPLACEMENT MEASUREMENT ON SCATTERING SURFACES UTILIZING SPECKLE EFFECT [J].

LEENDERTZ, JA .

JOURNAL OF PHYSICS E-SCIENTIFIC INSTRUMENTS, 1970, 3 (03) :214-+

[5]

LIGTENBERG FK, 1954, 12 P SESA, P83

[6]

RAYLEIGH L, 1964, SCIENTIFIC PAPERS LO, V1, P491