RELATION BETWEEN I/V CHARACTERISTICS AND NOISE IN METAL-OXIDE-METAL TUNNEL DIODES

被引：1

作者：

LECOY, G

CAMASSEL, J

机构：

来源：

关键词：

D O I：

10.1049/el:19670445

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

引用

页码：566 / &

共 7 条

[1] NEW PHENOMENON IN NARROW GERMANIUM PARA-NORMAL-JUNCTIONS [J].

ESAKI, L .

PHYSICAL REVIEW, 1958, 109 (02) :603-604

[2]

MENTALECHETA Y, 1967, THESIS ALGER

MILES, JL ;

SMITH, PH .

[4]

PUCEL RA, 1961, P IRE, V49, P1080

[5]

ROUZEYRE M, 1966, THESIS MONTPELLIER

[6]

SAVELLI M, 1967, CR ACAD SCI B PHYS, V264, P1147

SIMMONS, JG .