DEVELOPMENT OF CHARGE-TO-RADIUS RATIO MEASURING APPARATUS FOR SUB-MICRON PARTICLES

被引：5

作者：

MIZUNO, A ^{[1
]}

OTSUKA, M ^{[1
]}

机构：

[1] FLORIDA STATE UNIV,DEPT PHYS,TALLAHASSEE,FL 32306

来源：

IEEE TRANSACTIONS ON INDUSTRY APPLICATIONS | 1984年 / 20卷 / 03期

关键词：

D O I：

10.1109/TIA.1984.4504471

中图分类号：

T [工业技术];

学科分类号：

08 ;

摘要：

引用

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页码：703 / 708

页数：6

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共 6 条

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