POSITRON TRAPPING MEASUREMENTS OF HIGH PRECISION USING A LABELING TECHNIQUE

被引：4

作者：

MACKENZIE, IK ^{[1
]}

LICHTENBERGER, PC ^{[1
]}

机构：

[1] UNIV GUELPH, DEPT PHYS, GUELPH, ONTARIO, CANADA

来源：

APPLIED PHYSICS | 1974年 / 3卷 / 05期

关键词：

D O I：

10.1007/BF00885845

中图分类号：

O59 [应用物理学];

学科分类号：

摘要：

引用

页码：393 / 396

页数：4

共 6 条

BERKO, S ;

ERSKINE, JC .

COTTERIL.RM ;

TRAFF, J ;

TRUMPY, G ;

PETERSEN, K .

JOURNAL OF PHYSICS F-METAL PHYSICS, 1972, 2 (03) :459-&

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