VSM PROFILING OF COCR FILMS - A NEW ANALYTICAL TECHNIQUE

被引:12
作者
HAINES, WG
机构
[1] Magnetic Peripherals Inc,, Minneapolis, MN, USA, Magnetic Peripherals Inc, Minneapolis, MN, USA
关键词
D O I
10.1109/TMAG.1984.1063365
中图分类号
TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];
学科分类号
0808 ; 0809 ;
摘要
5
引用
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页数:3
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