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THE FATAL FLAW IN FLIGHT 51-L
被引:15
作者
:
BELL, TE
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
IEEE Spectrum, New York, NY, USA, IEEE Spectrum, New York, NY, USA
BELL, TE
ESCH, K
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
IEEE Spectrum, New York, NY, USA, IEEE Spectrum, New York, NY, USA
ESCH, K
机构
:
[1]
IEEE Spectrum, New York, NY, USA, IEEE Spectrum, New York, NY, USA
来源
:
IEEE SPECTRUM
|
1987年
/ 24卷
/ 02期
关键词
:
D O I
:
10.1109/MSPEC.1987.6448023
中图分类号
:
TM [电工技术];
TN [电子技术、通信技术];
学科分类号
:
0808 ;
0809 ;
摘要
:
引用
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页码:36 / 36
页数:1
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