THE FATAL FLAW IN FLIGHT 51-L

被引:15
作者
BELL, TE
ESCH, K
机构
[1] IEEE Spectrum, New York, NY, USA, IEEE Spectrum, New York, NY, USA
关键词
D O I
10.1109/MSPEC.1987.6448023
中图分类号
TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];
学科分类号
0808 ; 0809 ;
摘要
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页码:36 / 36
页数:1
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