ULTRALOW-LOAD HARDNESS TESTER FOR USE IN A SCANNING ELECTRON-MICROSCOPE

被引：18

作者：

BANGERT, H

WAGENDRISTEL, A

机构：

来源：

关键词：

D O I：

10.1063/1.1138154

中图分类号：

TH7 [仪器、仪表];

学科分类号：

0804 ; 080401 ; 081102 ;

摘要：

引用

页码：1568 / 1572

页数：5

共 19 条

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