AN INFANT-MORTALITY AND LONG-TERM FAILURE RATE MODEL FOR ELECTRONIC EQUIPMENT

被引：12

作者：

HOLCOMB, DP ^{[1
]}

NORTH, JC ^{[1
]}

机构：

[1] AT&T BELL LABS,MURRAY HILL,NJ 07974

来源：

AT&T TECHNICAL JOURNAL | 1985年 / 64卷 / 01期

关键词：

D O I：

10.1002/j.1538-7305.1985.tb00418.x

中图分类号：

TP3 [计算技术、计算机技术];

学科分类号：

0812 ;

摘要：

引用

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页码：15 / 31

页数：17

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共 7 条

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