NOISE AND HOT CARRIER EFFECTS IN A SINGLE INJECTION SOLID-STATE DIODE

被引：9

作者：

GISOLF, A ^{[1
]}

ZIJLSTRA, RJ ^{[1
]}

机构：

[1] RIJKS UNIV UTRECHT,FYS LAB,UTRECHT,NETHERLANDS

来源：

SOLID-STATE ELECTRONICS | 1974年 / 17卷 / 08期

关键词：

D O I：

10.1016/0038-1101(74)90033-1

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

引用

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页码：839 / 841

页数：3

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