SHALLOW ELECTRON TRAPS IN SINGLE CRYSTALS OF RUTILE STUDIED BY X-RAY IRRADIATION USING LOW FREQUENCY DIELECTRIC MEASUREMENTS

被引：6

作者：

SRIVASTAVA, KG

机构：

来源：

PHYSICA | 1962年 / 28卷 / 04期

关键词：

D O I：

10.1016/0031-8914(62)90017-4

中图分类号：

O4 [物理学];

学科分类号：

0702 ;

摘要：

引用

页码：368 / &

共 17 条

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