SURVEY OF DESIGN METHODS FOR FAILURE DETECTION IN DYNAMIC-SYSTEMS

被引：1233

作者：

WILLSKY, AS ^{[1
]}

机构：

[1] MIT,ELECTR SYST LAB,CAMBRIDGE,MA 02139

来源：

关键词：

D O I：

10.1016/0005-1098(76)90041-8

中图分类号：

TP [自动化技术、计算机技术];

学科分类号：

0812 ;

摘要：

引用

页码：601 / 611

页数：11

共 64 条

[1]

ATHANS M, 1975, 1975 P IEEE C DEC CO

[2]

ATHANS M, 1975, 6TH S NONL EST ITS A

[3]

ATHANS M, 1973, APR S PAR EST TECHN

[4]

BEARD RV, 1971, MVT711 MAN VEH LAB R

BELLETRUTTI, JJ ;

MACFARLANE, AG .

PROCEEDINGS OF THE INSTITUTION OF ELECTRICAL ENGINEERS-LONDON, 1971, 118 (09) :1291-+

[6] MARTINGALES ON JUMP PROCESSES .1. REPRESENTATION RESULTS [J].

BOEL, R ;

VARAIYA, P ;

WONG, E .

SIAM JOURNAL ON CONTROL, 1975, 13 (05) :999-1021

[7]

BROEN RB, 1974, P IEEE C DECISION CO, P743

[8]

BUENO R, 1975, ESLIR642 MIT EL SYST

[9]

BUXBAUM PJ, 1969, APR P S COMP PROC CO

[10]

CHIEN TT, 1972, T560 DRAP LABS REPT