NASCAP SIMULATION OF LABORATORY SPACECRAFT CHARGING TESTS USING MULTIPLE ELECTRON GUNS

被引：2

作者：

MANDELL, MJ

KATZ, I

PARKS, DE

机构：

来源：

关键词：

D O I：

10.1109/TNS.1981.4335766

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

引用

页码：4568 / 4570

页数：3

共 10 条

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