AVALANCHE-INDUCED BREAKDOWN MECHANISMS IN SHORT-CHANNEL MOSFETS

被引：3

作者：

HSU, FC

KO, PK

TAM, S

HU, C

MULLER, RS

机构：

[1] UNIV CALIF BERKELEY,DEPT ELECT ENGN & COMP SCI,BERKELEY,CA 94720

[2] UNIV CALIF BERKELEY,ELECTR RES LAB,BERKELEY,CA 94720

来源：

关键词：

D O I：

10.1109/T-ED.1982.20998

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

引用

页码：1702 / 1703

页数：2