ELECTRICAL EVALUATION OF THIN FILM CDS DIODES AND TRANSISTORS

被引：46

作者：

ZULEEG, R

机构：

来源：

关键词：

D O I：

10.1016/0038-1101(63)90059-5

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

引用

页码：645 / &

共 20 条

[1]

BOER KW, 1962, Z NATURFORSCH PT A, VA 17, P397

[2]

BOER KW, 1952, ANN PHYS, V6, P32

[3]

BORKAN H, 1963, RCA REV, V24, P153

[4]

BORKAN H, 1962, NEREM RECORD, V9, P158

[5] TRAP DENSITY DETERMINATION BY SPACE-CHARGE-LIMITED CURRENTS [J].

BUBE, RH .

[6] RECTIFICATION AND SPACE-CHARGE-LIMITED CURRENTS IN CDS FILMS [J].

DRESNER, J ;

SHALLCROSS, FV .

GOODMAN, AM .

[8]

Gurney R. W., 1940, ELECT PROCESSES IONI, P172

[9]

IHANTOLA HKJ, 1961, 16611 STANF U SOL ST

[10]

JOHNSON JE, 1963, APR EL CHEM SOC M PI