RELATIVE METHODS OF EVALUATION IN X-RAY SPECTROMETRY

被引：3

作者：

PLESCH, R ^{[1
]}

机构：

[1] SIEMENS AG,BEREICH MESS & PROZESS TECH,PO 211080,D-7500 KARLSRUHE,FED REP GER

来源：

FRESENIUS ZEITSCHRIFT FUR ANALYTISCHE CHEMIE | 1975年 / 275卷 / 04期

关键词：

D O I：

10.1007/BF00429372

中图分类号：

O65 [分析化学];

学科分类号：

070302 ; 081704 ;

摘要：

引用

页码：269 / 274

页数：6