MEASUREMENT OF MAGNETOSTRICTION IN FERROMAGNETIC THIN-FILMS

被引：186

作者：

KLOKHOLM, E ^{[1
]}

机构：

[1] IBM CORP,THOMAS J WATSON RES CTR,DIV SYST PROD,MFG RES LAB,YORKTOWN HTS,NY 10598

来源：

关键词：

D O I：

10.1109/TMAG.1976.1059251

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

引用

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页数：3