VALIDITY OF MATTHIESSENS-RULE FOR METALLIC-FILMS

被引：8

作者：

LEONARD, WF ^{[1
]}

LIN, SF ^{[1
]}

机构：

[1] SO METHODIST UNIV,ELECTR SCI CTR,DALLAS,TX 75222

来源：

关键词：

D O I：

10.1016/0040-6090(75)90285-0

中图分类号：

T [工业技术];

学科分类号：

08 ;

摘要：

引用

页码：L9 / L12

页数：4

共 14 条

[1]

ALEKSANDROV BN, 1963, SOV PHYS JETP-USSR, V16, P286

[2]

ANDERSON JC, 1966, USE THIN FILMS PHYSI

[3]

BLATT FJ, 1968, PHYSICS ELECTRONIC C

[4]

Chopra K.L, 1969, THIN FILM PHENOMENA

Fuchs, K .

PROCEEDINGS OF THE CAMBRIDGE PHILOSOPHICAL SOCIETY, 1938, 34 :100-108

HOLWECH, I ;

JEPPESEN, J .

PHILOSOPHICAL MAGAZINE, 1967, 15 (134) :217-&

[7] THERMOELECTRIC POWER OF THIN METAL FILMS [J].

LEONARD, WF ;

LIN, SF .

[8]

MacDonald D. K. C, 1962, THERMOELECTRICITY IN

[9]

MATTHIESSEN G, 1864, ANN PHYS LEIPZIG, P122

[10]

MEYER H, 1969, STRUCTURE PROPERTIES, P225