SECONDARY FLUORESCENT EXCITATION IN SCANNING ELECTRON-MICROSCOPE - IMPROVED SENSITIVITY OF ENERGY DISPERSIVE ANALYSIS

被引：6

作者：

GOULD, RW ^{[1
]}

HEALEY, JT ^{[1
]}

机构：

[1] UNIV FLORIDA,DEPT MAT SCI & ENGN,GAINESVILLE,FL 32611

来源：

REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS | 1975年 / 46卷 / 10期

关键词：

D O I：

10.1063/1.1134022

中图分类号：

TH7 [仪器、仪表];

学科分类号：

0804 [仪器科学与技术]; 080401 [精密仪器及机械]; 081102 [检测技术与自动化装置];

摘要：

引用

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页码：1427 / 1428

页数：2

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