RADIATION EFFECTS MODELING AND EXPERIMENTAL-DATA ON I2L DEVICES

被引：5

作者：

LONG, DM

REPPER, CJ

RAGONESE, LJ

YANG, NT

机构：

[1] GE,DIV REENTRY & ENVIRONM SYST,PHILADELPHIA,PA 19101

[2] GE,ELECTR LAB,SYRACUSE,NY 13201

来源：

关键词：

D O I：

10.1109/TNS.1976.4328564

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

引用

页码：1697 / 1701

页数：5