DC INTERFACIAL BREAKDOWN ON CONTAMINATED ELECTROLYTIC SURFACES

被引:22
作者
CHENG, TC
WU, CY
NOUR, H
机构
来源
IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRICAL INSULATION | 1984年 / 19卷 / 06期
关键词
D O I
10.1109/TEI.1984.298826
中图分类号
TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];
学科分类号
0808 ; 0809 ;
摘要
引用
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页码:536 / 542
页数:7
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共 20 条
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