DC INTERFACIAL BREAKDOWN ON CONTAMINATED ELECTROLYTIC SURFACES

被引：22

作者：

CHENG, TC

WU, CY

NOUR, H

机构：

来源：

IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRICAL INSULATION | 1984年 / 19卷 / 06期

关键词：

D O I：

10.1109/TEI.1984.298826

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

引用

页码：536 / 542

页数：7

共 20 条

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