FREQUENCY MODULATED X-RAY-DIFFRACTION .1. DETERMINATION OF PARTIAL STRUCTURE FACTORS

被引：49

作者：

SHEVCHIK, NJ ^{[1
]}

机构：

[1] SUNY STONY BROOK,DEPT PHYS,STONY BROOK,NY 11794

来源：

PHILOSOPHICAL MAGAZINE | 1977年 / 35卷 / 03期

关键词：

D O I：

10.1080/14786437708236008

中图分类号：

T [工业技术];

学科分类号：

08 ;

摘要：

引用

页码：805 / 809

页数：5

共 5 条

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