X-RAY TOPOGRAPHY EXAMINATION OF LATTICE-DISTORTIONS IN LEC-GROWN GAAS SINGLE-CRYSTALS

被引：18

作者：

KITANO, T ^{[1
]}

MATSUI, J ^{[1
]}

ISHIKAWA, T ^{[1
]}

机构：

[1] NATL LAB HIGH ENERGY PHYS,OHO,IBARAKI 305,JAPAN

来源：

JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS PART 2-LETTERS | 1985年 / 24卷 / 12期

关键词：

D O I：

10.1143/JJAP.24.L948

中图分类号：

O59 [应用物理学];

学科分类号：

摘要：

引用

页码：L948 / L950

页数：3

共 5 条

[1]

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