MEASUREMENT OF BIASES IN THE ELECTRON MULTIPLIER ION DETECTION SYSTEM OF A FINNIGAN-MAT MODEL 261 MASS-SPECTROMETER

被引：19

作者：

LOVERIDGE, WD

机构：

来源：

INTERNATIONAL JOURNAL OF MASS SPECTROMETRY AND ION PROCESSES | 1986年 / 74卷 / 2-3期

关键词：

D O I：

10.1016/0168-1176(86)85005-4

中图分类号：

O64 [物理化学（理论化学）、化学物理学]; O56 [分子物理学、原子物理学];

学科分类号：

070203 ; 070304 ; 081704 ; 1406 ;

摘要：

引用

页码：197 / 206

页数：10

共 6 条

[1] SECONDARY-ELECTRON EMISSION MULTIPLIERS AS PARTICLE DETECTORS [J].

BAUMGARTNER, WE ;

HUBER, WK .

JOURNAL OF PHYSICS E-SCIENTIFIC INSTRUMENTS, 1976, 9 (05) :321-330

CATANZARO, EJ ;

MURPHY, TJ ;

SHIELDS, WR ;

GARNER, EL .

JOURNAL OF RESEARCH OF THE NATIONAL BUREAU OF STANDARDS SECTION A-PHYSICS AND CHEMISTRY, 1968, A 72 (03) :261-+

[3] USE OF ELECTRON MULTIPLIERS IN MASS SPECTROMETRY [J].

COLLINS, RD .

[4]

INGHRAM MG, 1954, 14 US NATL AC SCI NA, P41

[5]

RODDICK JC, 1986, TERRA COGNITA, V6, P152

[6]

RODDICK JC, 1986, MAT66 FINN APPL REP