DIRECT CALIBRATION AND MEASUREMENT OF MICROSTRIP STRUCTURES ON GALLIUM-ARSENIDE

被引：4

作者：

SHEPHERD, PR ^{[1
]}

POLLARD, RD ^{[1
]}

机构：

[1] UNIV LEEDS,DEPT ELECT & ELECTR ENGN,LEEDS LS2 9JT,W YORKSHIRE,ENGLAND

来源：

关键词：

D O I：

10.1109/TMTT.1986.1133558

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

引用

页码：1421 / 1426

页数：6

共 8 条

BRYANT, TG ;

WEISS, JA .

[2]

CARLTON DE, 1985, MICROWAVE J, V28, P121

[3]

da Silva E. F., 1978, Radio and Electronic Engineer, V48, P227, DOI 10.1049/ree.1978.0032

[4]

EDWARDS TC, 1981, F MICROSTRIP CIRCUIT

[5]

PITZALIS O, 1986, 27TH ARFTG C BALT

[6]

PUCEL PA, 1968, IEEE T MICROW THEORY, V16, P1064

SHEPHERD, PR ;

DALY, P .

[8]

SHEPHERD PR, 1985, JUN IEEE MTT S INT M