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- [3] SUR LES BASES PHYSIQUES DE LANALYSE PONCTUELLE PAR SPECTROGRAPHIE-X [J]. JOURNAL DE PHYSIQUE ET LE RADIUM, 1955, 16 (04): : 304 - 317
- [4] CASTAING R, 1966, XRAY OPTICS MICROANA, P120
- [5] Castaing R., 1960, Adv. Electron. Electron Phys, P317, DOI [DOI 10.1016/S0065-2539(08)60212-7, 10.1016/S0065-2539(08)60212-7]
- [6] DUNCUMB P, 1966, ELECTRON MICROPROBE, P217
- [7] DUNCUMB P, 1968, NBS SPEC PUBL, P133
- [8] HEINRICH KFJ, 1968, ADVANCES XRAY ANALYS, V11, P40
- [9] HEINRICH KFJ, 1966, ELECTRON MICROPROBE, P296
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