METHOD FOR HALL MOBILITY + RESISTIVITY MEASUREMENTS ON THIN LAYERS

被引：23

作者：

LANGE, J

机构：

来源：

JOURNAL OF APPLIED PHYSICS | 1964年 / 35卷 / 09期

关键词：

D O I：

10.1063/1.1713821

中图分类号：

O59 [应用物理学];

学科分类号：

摘要：

引用

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页码：2659 / &

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共 2 条

[1] van der Pauw LJ., 1959, PHILLIPS TECH REV, V20, P220
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