APPLICATION OF X-RAY DIFFUSE-SCATTERING TO STRUCTURE DETERMINATIONS OF POINT-DEFECTS

被引：17

作者：

HAUBOLD, HG ^{[1
]}

机构：

[1] KERNFORSCHANLAGE JULICH,INST FESTKORPERFORSCH,517 JULICH,FED REP GER

来源：

REVUE DE PHYSIQUE APPLIQUEE | 1976年 / 11卷 / 01期

关键词：

D O I：

10.1051/rphysap:0197600110107300

中图分类号：

O59 [应用物理学];

学科分类号：

摘要：

引用

页码：73 / 81

页数：9

共 8 条

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