MSI-LSI RADIATION RESPONSE, CHARACTERIZATION AND TESTING

被引：4

作者：

RAYMOND, JP ^{[1
]}

机构：

[1] NORTHROP RES & TECHNOL CTR,HAWTHORNE,CA 90250

来源：

IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE | 1974年 / NS21卷 / 06期

关键词：

D O I：

10.1109/TNS.1974.6498946

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

引用

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页码：308 / 314

页数：7

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