DEPENDENCE OF GE(LI) EFFICIENCY SLOPE ON SOURCE-TO-DETECTOR DISTANCE

被引：6

作者：

GRANT, PM ^{[1
]}

机构：

[1] LOS ALAMOS SCI LAB,LOS ALAMOS,NM 87544

来源：

NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS | 1975年 / 127卷 / 03期

关键词：

D O I：

10.1016/S0029-554X(75)80007-3

中图分类号：

TH7 [仪器、仪表];

学科分类号：

0804 ; 080401 ; 081102 ;

摘要：

引用

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页码：371 / 372

页数：2

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共 2 条

[1]

CROUTHAMEL CE, 1970, APPLIED GAMMARAY SPE, P218

[2] EMPIRICAL FUNCTION WHICH RELATES SLOPE OF GE(LI) EFFICIENCY CURVES AND ACTIVE VOLUME [J].

VANO, E ;

GONZALEZ, L ;

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GONZALEZ, JA .

NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS, 1975, 123 (03) :573-574