CHARACTERIZATION OF EXTENDED DEFECTS IN ALPHA-HGI2 SINGLE-CRYSTALS

被引：17

作者：

GITS, S

机构：

来源：

NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH | 1983年 / 213卷 / 01期

关键词：

D O I：

10.1016/0167-5087(83)90041-8

中图分类号：

TH7 [仪器、仪表];

学科分类号：

0804 ; 080401 ; 081102 ;

摘要：

引用

页码：43 / 50

页数：8

共 8 条

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