CAUSES OF SOME ERRORS IN MEASUREMENTS IN GRAIN-ORIENTED SILICON-IRON USING THE EPSTEIN SQUARE

被引：6

作者：

DAVIES, D

MOSES, AJ

机构：

来源：

JOURNAL OF MAGNETISM AND MAGNETIC MATERIALS | 1982年 / 26卷 / 1-3期

关键词：

D O I：

10.1016/0304-8853(82)90109-3

中图分类号：

T [工业技术];

学科分类号：

08 ;

摘要：

引用

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页数：2

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共 1 条

[1] EFFECTS OF STACKING METHODS ON EPSTEIN-SQUARE POWER-LOSS MEASUREMENTS [J].

MOSES, AJ ;

PHILLIPS, PS .

PROCEEDINGS OF THE INSTITUTION OF ELECTRICAL ENGINEERS-LONDON, 1977, 124 (04) :413-416