ACHIEVEMENT OF ULTRAHIGH RESOLUTION BY 400 KV ANALYTICAL ATOMIC-RESOLUTION ELECTRON-MICROSCOPY

被引：21

作者：

HASHIMOTO, H

机构：

来源：

关键词：

D O I：

10.1016/0304-3991(85)90118-4

中图分类号：

TH742 [显微镜];

学科分类号：

摘要：

引用

页码：19 / 31

页数：13

共 14 条

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