MEASUREMENT OF THERMAL-RESISTANCE USING ELECTRICAL METHODS

被引：5

作者：

WEBB, PW

机构：

来源：

IEE PROCEEDINGS-I COMMUNICATIONS SPEECH AND VISION | 1987年 / 134卷 / 02期

关键词：

D O I：

10.1049/ip-i-1.1987.0007

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

引用

页码：51 / 56

页数：6

共 7 条

BARLOW, PS ;

DAVIS, RG ;

LAZARUS, MJ .

IEE PROCEEDINGS-I COMMUNICATIONS SPEECH AND VISION, 1986, 133 (05) :177-179

[2]

BUSHMAN GS, 1985, ELECTRON ENG OCT, P101

[3]

FUKUI H, 1980, ELECTRON DEVICES M W, P118

[4]

LIDBACK CA, 1977, 3RD P BIENN C INFR I, P23

[5] THERMAL CHARACTERIZATION OF POWER TRANSISTORS [J].

OETTINGER, FF ;

BLACKBURN, DL ;

RUBIN, S .

[6]

Rhoderik E.H., 1978, METAL SEMICONDUCTOR, P7

WEBB, JP ;

MAILE, GL ;

FERRARI, RL .