MATHEMATICAL-MODELS FOR MARGINAL RELIABILITY-ANALYSIS

被引：1

作者：

CORSI, F

机构：

来源：

MICROELECTRONICS AND RELIABILITY | 1983年 / 23卷 / 06期

关键词：

D O I：

10.1016/0026-2714(83)90524-3

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

引用

页码：1087 / 1102

页数：16

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共 16 条

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